Информация о ресурсе
Название
ЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
МАТЕРИАЛОВ И СТРУКТУР ЭЛЕКТРОНИКИ
Тип ресурса
Методические указания
Предметная област
Общественные науки в целом
Подкатегория
Год
2011
УДК
УДК 621.3
Шифр
Анотация
Содержат сведения по изучению принципов и навыков работы на сканирующих зондовых микроскопах для исследования свойств материалов и структур электроники.
Предназначены для подготовки дипломированных специалистов по направлению 200100 – «Электроника и микроэлектроника».
Ключевые слова
Методы исследования, сканирующая зондовая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, туннельная микроскопия
Файл
1161.pdf